同一个搭接面，测出四五个数，彼此差出好几微欧。现场遇到这种情形，反应多半是怀疑仪器，或者干脆挑一个看着顺眼的记进报告。两种做法都不对。母线搭接面不是一个电阻，而是一片接触区，电流在这片区域里的分布本来不均匀。多数时候，各测点之间的差是真实的，而且可以拆开——拆开之后，那几个数不但不矛盾，还能指出问题出在哪一颗螺栓上。
断路器触头的接触发生在一条线或几个点上，母线搭接则是两块导体整片贴合。这个区别决定了两者的数据性质完全不同：触头测出来的是一个数，搭接面测出来的是一组数。
电流在搭接面上的分配并不均匀：靠近螺栓的位置受到的压力集中，实际接触的微小斑点数量多，电流走得顺畅。远离螺栓的位置压力衰减，两块导体可能只是贴在一起，电流要绕到螺栓附近才能通过。于是同一个搭接面上，不同位置给出的电阻天然不同。
这种空间差异不是误差，是搭接面真实状态的反映，把各点读数的差当成仪器不准，等于把有用信息当成噪声扔掉。
多颗螺栓的布置本身属于分区压紧的设计。GB 50149-2010《电气装置安装工程 母线装置施工及验收规范》表 3.2.2 对矩形母线的搭接给出螺栓数量同规格：80 mm 宽铜排做直线连接时用 4 颗 M12，100 mm 宽用 4 颗 M16，40 mm 宽只用 2 颗 M12。规格表里写的是颗数，等于承认了搭接面要靠多个压紧点分区承担电流，测点照着螺栓布，才对得上这个设计意图。
先说一件容易被忽略的事。DL/T 596-2021《电力设备预防性试验规程》表 56「一般母线的试验项目、周期和要求」，列的是两项：绝缘电阻，判据为不应低于 1 MΩ/kV；交流耐压试验，额定电压 1 kV 以上的试验电压参照附录 B，1 kV 及以下的为 1000 V。周期都是 A、B 级检修后以及必要时。
封闭母线那一张表同样只有绝缘电阻同交流耐压两项。
母线搭接面的电阻测量在预防性试验规程里并没有立项。没有立项，便没有法定判据。这一条决定了后面所有的讨论方向：现场测搭接面电阻，测出来的是一个状态量，不是合格与否的结论。
把状态量当成合格判据用，是这类测量常见的误用，反过来，因为规程没要求便认为这项测量没有价值，同样走到了另一头。它的价值恰恰在于规程没有给限值——正因如此，判断的责任落在数据本身，而判断的办法只剩一致性这一条路。
规程把控制点放在施工环节，是有道理的。搭接面的接触电阻在安装完成那一刻基本确定，运行期的变化主要来自螺栓松动同接触面氧化，而这两件事在力矩复核同外观检查里更容易发现。GB 50149-2010 在第 3 章里逐条规定接触面处理、螺栓规格同紧固力矩，正是把质量控制前移。运行期测电阻的用处，在于验证这一套工艺在现场有没有落到实处。
流传着一条判据：母线搭接面的接触电阻不应大于同长度同截面母线电阻的 1.2 倍。这条说法出现的频率不低，检测机构的页面、题库、技术问答里都能见到，有时候还会配上镀银铜不大于 10 μΩ、镀锡铜不大于 20 μΩ 这样的具体数值。
本轮核查把这条说法的出处追了一遍，能追到的只有考试题库同第三方检测页面的转述，没有一份写出条款号。有的页面把它挂在低压成套开关设备的总则标准上，即 GB/T 7251.1。这份标准现行的是 2023 版，2023 年 8 月 6 日发布、2024 年 3 月 1 日实施，全部代替 2013 版，规定的是成套设备的通用定义、使用条件、结构要求、技术特性同验证要求，本轮核查未在其中找到接触电阻限值的条款。也有的页面把它挂在 DL/T 596-2021 上，而该规程表 56 根本没有这一项。
结论只有一句：这条说法在拿到原始条款之前，不应作为判定依据。现场要用，请先核对出处。
顺带要分清另外两个数。出厂试验测得的主回路电阻不应超过型式试验测得值的 1.2 倍，温升试验前后测得的电阻变化不应超过 20%，这两个数是真的，出处在 GB/T 11022-2020《高压交流开关设备和控制设备标准的共用技术要求》，对标的国际标准是 IEC 62271-1。它们的对象是高压开关设备的主回路，基准是型式试验测得的 Ru，不是母线搭接面，也不是出厂值。把这两个数搬到母线搭接面上，或者把基准从型式试验值换成出厂值，都属于判据串用。
排除掉那些追不到出处的限值之后，可用的判断依据还剩三条：跟自己的历史数据比，跟同规格的同类搭接面比，跟同一个搭接面上的其他测点比。
前两条各有条件。历史数据需要这台设备以前测过，而且那次测量记下了跨距同温度。同类搭接面需要同一段母线上有规格相同、螺栓数相同的对象可供参照。第三条当场便能做，不依赖任何外部资料。
这正是多点测量的价值所在，它把没有统一限值的局面，变成了可以判断相对状态的局面。同一片搭接面上，各测点本该接近，某一个点明显偏高，问题便定位到了那里。
不过一致性这条路有个前提。各测点的读数里除了接触状态，还叠着几何同温度两项，不把这两项剥掉，比较出来的差异里混着大量非缺陷成分。剥项是这项工作的主体。
微欧计显示的数，是电压端子取到的电压降同电流端子送出的电流之比，这个比值里至少叠着三项。
头一项是母线的本体电阻，由测点之间那段导体的长度、截面同材料电阻率决定，它跟搭接面好坏毫无关系，却实实在在进了读数。
第二项是搭接面的接触电阻，包括电流在微观接触斑点处收缩产生的收缩电阻，以及表面氧化膜带来的膜电阻，这一项才是要找的量。
第三项是夹持引入的附加量，包括测试夹同母线表面的接触、电流线的走向、电压引线的绞合情况。这一项属于测量误差，靠四线制同规范操作压住。
三项里只有第二项反映搭接面的状态。多点测量的全部技巧，可以概括成一句话：把头一项算出来减掉，把温度带来的那一部分折掉，然后才谈第三项有没有压住。
本体电阻可以算，因为材料参数有据可查。GB/T 5585.1-2018《电工用铜、铝及其合金母线》的铜和铜合金母线部分，在表 11 里给出：硬态铜母线 20 ℃ 时的直流电阻率不大于 0.01777 Ω·mm²/m，导电率不小于 97% IACS；软态的不大于 0.017241 Ω·mm²/m。
算法是 R = ρL/A。以 1000 mm² 截面的硬态铜排为例，每 100 mm 长度贡献的本体电阻约 1.78 μΩ，200 mm 约 3.55 μΩ，300 mm 约 5.33 μΩ，跨距拉长一倍，本体这一项也跟着翻倍。
截面越小，本体这一项的影响越明显：同样是硬态铜排，640 mm² 截面下每 100 mm 贡献约 2.78 μΩ，是 1000 mm² 截面的 1.56 倍。小柜里的窄排尤其要注意，跨距稍大，本体项会盖过接触项自身的变化。
举个数看看它有多能捣乱。假定某搭接面的接触项恒为 15 μΩ，测点跨距从 60 mm 拉到 300 mm，读数从 16.07 μΩ 涨到 20.33 μΩ，两头相差 4.26 μΩ，这 4.26 μΩ 全部来自导体本体，接触项一点没变。若不剥掉，光看读数会以为这片搭接面在两个测点上差了四分之一还多。
这也解释了那条流传判据为什么难以落地：它说的同长度，在多点测量里根本不是一个长度——每个测点的跨距都是自己那一个。剥项的顺序不能反：先把每个测点按自己的跨距算出本体，减掉，剩下的才是可比量。
温度这一项也躲不开。GB/T 5585.1-2018 的 5.9.2 给出 20 ℃ 时的电阻温度系数：软态 0.00393 ℃⁻¹，硬态 0.00381 ℃⁻¹。折算式为 R20 = Rt / [1 + α(t - 20)]。
按硬态的系数算，铜排本体的电阻在 40 ℃ 时比 20 ℃ 高 7.6%，60 ℃ 高 15.2%，70 ℃ 高 19.0%，软态的系数略大，同一温度下的偏高幅度还要再高一点。
刚停运的母线各段温度并不均匀：靠近某个发热搭接点的位置更热，离得远的位置更凉。于是多个测点即便几何完全相同，温度不同也会给出不同的数。这种情况在柜内母线上尤其明显，散热条件沿母线走向变化，温度梯度是常态。
结论对现场很直接：记录测点温度比记录环境温度更有用，每个测点记一次温度，折算到 20 ℃ 之后再比，温度这一项才算剥干净。
这个折算只对铜排本体那一段成立。接触电阻随温度的变化规律与本体不同，它受接触压力同膜层性质支配，用同一个系数去折整个读数只是近似。严格做法是对本体项单独折算，接触项保留实测值，并在记录里注明测点温度。
布点方案应当照着螺栓来，理由前面说过，搭接面是按压紧点分区承担电流的。具体做法有四条。
80 mm 宽铜排直线搭接用 4 颗 M12，相应布 4 个测点，每个测点对应一颗螺栓的压紧区，测点少于螺栓数，会漏掉某一段压紧状态。测点多于螺栓数时，多出来的点落在两个压紧区之间，读数往往偏高且解释困难。
电压端子分置搭接缝两侧，到缝的距离两边相等，这样每个测点的几何项一致，剥项时只需算一次，不必逐点重算。两侧距离取多少由现场空间决定，记下来即可。
电流端子应当远离搭接区，让电流在进入搭接面之前完成展开，这一条属于四线制的基本用法，本篇不展开，相关依据另有专文。
跨距、测点温度、螺栓编号、该螺栓的力矩值，少了任何一项，后面的剥项同归责都做不下去。这四项写进记录表，一张搭接面一行，比事后追忆可靠得多。
遇到搭接面较宽或者螺栓排成两列的情况，布点要加密。两列螺栓意味着压紧区也分两排，只在边缘布一排测点，会漏掉中间那一条带的贴合状态。此时测点数按螺栓数走，位置按各自对应的螺栓定位，不要图省事只测两端。
判断分三步走，顺序不能反。开头一步看同一个测点的重复性。
同一个测点连测三次，看极差。极差小，说明夹子夹稳了、电流稳住了，这个点的读数可以进入下一步。极差大，说明这次测量本身还没收敛，先去解决夹点处理同电流显示值，不要急着谈空间差异。
这一步的意义在于把时间维度的噪声同空间维度的真实差异分开。两个维度搅在一起时，现场看不出读数跳动到底是仪器的问题还是搭接面的问题，容易走错方向。
分辨力给这一步提供了参照。DL/T 845.4-2019《电阻测量装置通用技术条件》对回路电阻测试仪规定，回路仪的分辨力应小于对应量程上限的 1/10。读数能分辨出来的变化幅度由这一条界定，比它更细的起伏没有讨论意义。
三次是经验值，不是规定。夹点处理到位、电流显示稳定时，两次一致即可记录，若两次相差明显，应处理夹点后重测，而不是靠多测几次取平均把差异盖过去。取平均会同时把真实的异常一起抹平。
第二步是同一搭接面各点之间的比较，这是多点测量的正题。做法是先把每个测点的几何项同温度项减掉，得到残差，再看残差的分散程度。
举个完整的例子。某段 1000 mm² 截面的硬态铜排，搭接面上有 4 颗螺栓，4 个测点的跨距统一为 80 mm，按 0.01777 Ω·mm²/m 算，80 mm 对应的本体电阻为 1.42 μΩ。
四个测点的读数依次为 18.2、17.6、24.8、18.0 μΩ。各自减掉 1.42 μΩ，残差为 16.78、16.18、23.38、16.58 μΩ。残差的均值为 18.23 μΩ，极差为 7.20 μΩ，相对分散度约 39.5%。
剩下的三点彼此接近，均值 16.51 μΩ，极差只有 0.60 μΩ，第三个点比其余三点的均值高出 6.87 μΩ。
这个形状说明问题不在整片搭接面，而在第三个测点对应的那颗螺栓。它压得不紧，或者孔口有毛刺，或者垫片装错了位置，处置办法是先复核那颗螺栓的力矩，再决定要不要拆开看接触面。
注意分散度这个数本身没有阈值，三十几个百分点听起来很大，但如果不去看形状，只知道分散，仍然得不出结论。真正给出结论的是形状：哪几个点一致，哪几个点突出。
剥项这一步省不得。有人直接用原始读数算分散度，得到的数里混着跨距差异同温度差异，形状会被扭曲，本来一致的点看起来不一致，本来突出的点反而不突出。
第三步是横向比较。同一段母线上，规格相同、螺栓数相同、跨距相同的搭接面，读数应当接近。
三相之间的同位置搭接面尤其可比，它们的几何、材料、螺栓规格都一样，载荷也对称，理论上不该有明显差别。某一相的残差整体高出另外两相，问题多半出在安装环节而不是运行老化。
横向比较能发现纵向比较发现不了的一类问题：整批偏大。各测点彼此一致，分散度很小，但整片搭接面的残差都高，这种形状说明压紧是均匀的，只是整体压力不够，或者接触面的处理不到位。
这一类同内部不一致是两种不同的缺陷，处置办法也不同，前者要整片返工，后者只需处理那一颗螺栓。只看分散度会把这一类放过去，只看均值会把前一类放过去，两步都要走。
把前两步合起来，现场遇到的形状大致可以归成四类。
某一个测点的残差明显偏高，其余各点彼此一致，指向该测点对应的螺栓力矩不足，或者孔壁毛刺、垫片错位一类局部缺陷。处置是复核那颗螺栓，必要时拆开检查。
靠搭接面两端的测点高，中间的测点低，这种形状指向搭接面翘曲或者螺栓布置偏外，中间区域贴合反而更紧。处置是检查母线的平直度同钻孔位置，GB 50149-2010 的 3.2.8 要求螺孔中心距离允许偏差为 0.5 mm，孔位偏了便会出现这种分布。
各测点残差彼此接近，但整体水平高，指向力矩整体不足、接触面氧化，或者电力复合脂涂得不对。处置是整片返工，而不是只拧某一颗螺栓。
同一个点连测几次读数便散，各点之间更没有规律，这种形状指向测量本身：夹点没处理好，电流没稳住，或者仪器有问题。搭接面多半是好的，此时不要去动螺栓。
前三类指向搭接面，第四类指向测量过程。混淆这两类会造成两类浪费：该处理的没处理，不该拆的拆开了。
处置之后还要重测一遍。同一组测点应原样重测，跨距同测点位置都要与上一次一致，否则前后两组数据无法直接比。力矩复核后数值回到其余各点的水平，说明判断成立。数值没有变化，说明原因不在这颗螺栓上，应回到第四章的三条路径重新排查。
多点测量发现异常之后，先查的量通常是力矩。理由在标准里写得很清楚。
GB 50149-2010 的 3.3.3 要求：母线连接接触面间应保持清洁，并应涂以电力复合脂；母线接触面应连接紧密，连接螺栓应用力矩扳手紧固，钢制螺栓的紧固力矩值应符合表 3.3.3 的规定，非钢制螺栓按产品技术文件要求。表 3.3.3 给出的钢制螺栓力矩为：M8 为 8.8~10.8 N·m，M10 为 17.7~22.6 N·m，M12 为 31.4~39.2 N·m，M16 为 78.5~98.1 N·m，M20 为 156.9~196.2 N·m。
力矩并非越大越好。超过表列上限会让接触面产生塑性变形，实际接触斑点反而减少，接触电阻不降反升。表列的是一个区间，不是下限，这个区间两头都有意义。
接触面状态由三件事决定：清洁度、平整度、压紧力。GB 50149-2010 的 3.2.9 对前两件给出量化要求：接触面应平整、无氧化膜，加工后截面减少值铜母线不应超过原截面的 3%，铝母线不应超过 5%，具有镀银层的母线搭接面不得进行锉磨。这三条同力矩表一起读，因果关系便清楚了——电阻是结果，力矩同接触面是原因。
红外测温同电阻测量看的是同一件事的两个阶段。红外看到的是发热这个结果，电阻测量看到的是阻值这个原因。
红外的长处是扫面快，不停电便能把整柜的连接点过一遍。它的短处是只能发现已经热起来的点，这时候缺陷往往已经发展了相当一段时间。电阻测量的长处是能在发热之前发现，短处是受测点同几何影响，而且需要停电。
两条证据链互补，用法上有先后。先用红外把整柜扫一遍，圈出温升异常的连接点，再用微欧计对可疑点做停电复核，这是效率同准确性兼顾的做法。
反过来也成立。电阻测量发现某点偏高而红外显示温升正常，说明缺陷还在早期，暂时没有热起来。这类点值得记进台账，下一次检修时重点复测。两条证据不一致的时候，通常不是某一路错了，而是缺陷处在某个特定阶段。
电阻复测的时机也影响结果。刚停运的母线温度偏高，读数里带着温度项，宜等冷却到接近环境温度再测，或者按第七章的办法逐点折算。同一台设备前后两次测量，如果一次热一次凉，直接比较会得出错误的趋势。
多点测量对仪器提出的要求，跟单点测量并不相同。下面四项是关键。
多点比较比的是几微欧甚至更细的差。分辨率不够，残差里那点差异会被量化噪声吃掉。北京康高特（KGT）自研的白驹手持式大电流微欧计给出的分辨率为 0.1 μΩ，电阻量程 0~2000 mΩ，典型精度 ±0.5%，采用超级电容四线法。这个组合能把各测点之间几微欧的差读出来。
大电流的作用之一是击穿接触面的氧化膜，小电流测到的往往是膜电阻而不是真实接触状态。这台仪器的测试电流档位覆盖 1 A 到 230 A，无负载输出电压 3.7 V。遇到薄排或者小截面搭接面，用小档避免通电发热改变被测状态。遇到大截面铜排，用大档保证膜层被击穿。档位选择要写进记录，换档之后的数据不能直接比。
多点多面测下来，数据量是单点测量的好几倍。靠手抄容易出错，也排不上顺序。这台仪器内部配 2 GB SD 卡，可存 1000 条测量结果，配合时间戳能把各测点按序排回各自的搭接面。4.3 英寸 TFT 屏用于现场核对。
柜内空间窄，测点又多，仪器如果必须两人配合才能移动，逐点测量的效率会掉得很厉害。这台仪器长 262 mm、宽 135 mm、高 50 mm，重 1.2 kg，配 8000 mAh 锂聚合物电池，充电 4 小时，续航 8 小时，一个人可以完成整柜的逐点作业。
另外有一项在多点测量里格外有用：该仪器提供常规、开尔文探头高精度、双端接地三种测量模式。被测段存在并联接地路径时，读数反映的是并联之后的结果而不是被测段本身，这时换模式比换仪器快得多。
回到开头那个问题。同一片搭接面测出四五个数，不是仪器互相打架，而是这片接触区各处状态本来不一样。把差异当成噪声丢掉，损失的是定位能力；把差异当成结论直接上报，损失的是准确性。
顺序是固定的：先确认单个测点的重复性，再按跨距剥掉本体电阻，再按测点温度折算到 20 ℃，收尾时比残差的形状。几步走完，那几个数会自己说出问题在哪一颗螺栓上。
规程没有给母线搭接面规定电阻限值，这件事反过来要求现场把数据记全。跨距、温度、螺栓编号、力矩值，四项缺一，这张状态分布图便拼不出来。多点测量的价值不在多测几个数，在于把每个数背后的条件一起记下来。没有这些条件，测再多的点也只是一堆数字。
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